实验发现,该改进的SNOM探针在矢量光束入射照明光激发下,分辨率可达10 nm 量级,通光率可达3.28%,信噪比可达18.2,展示了表面等离激元光学与SNOM 结合对改进SNOM 综合性能的潜力。

2018年5月21日 · Scattering-type scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) enables nanoscale spectroscopic imaging and has been instrumental for many nano-photonic discoveries and in situ...

2019年12月9日 · 扫描近场光学显微技术（SNOM）的新进展及应用方向 发布日期：2019-12-09 “扫描近场光学显微技术” 早由科学研究工作者Edward Hutchinson Synge提出。

2016年10月17日 · Scattering-type scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) allows spectroscopic imaging with spatial resolution below the diffraction limit. With suitable...

散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM ）作为新型近场光学技术，使用散射点代替传统孔径（或光纤），从而获得更高的空间分辨率。

互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。 通过访问关于质的结构的辐射 （s-SNOM） 和非辐射 （AFM-IR） 信息，可以获得独特且互补的质质属性。

扫描近场光学显微镜 (scanning near-field optical microscopy, SNOM)，能在纳米尺度上探测样品的光学信息，打破了长久以来经典 (或远场)光学显微镜理论分辨率的 阿贝衍射极限，将光学分辨率提高了几十甚至上百倍。

Scanning near-field microscopy based on this principle was first proposed by Synge [1] and demonstrated at microwave frequencies by Ash and Nicholls [2] with a resolution of l/60 [3]. At visible wavelengths this principle (optical stethoscopy, near-field optical-scanning microscopy, SNOM) was demonstrated by Pohl et al [3, 4].

应用描述 扫描近场显微术 (SNOM) 是一类对纳米尺度下光与物质的相互作用进行测量的扫描探针显微镜技术，可用于研究样品的局域光学特性。 通过运用光学近场效应，它的分辨率突破了传统远场测量中的衍射极限。

2017年2月10日 · 在s-SNOM技术中，一束特定波长的光被聚焦在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的探针上，金属或带有金属涂层的AFM探针被用来加强和散射样品表面附近的近场光场，因此，散射光包含了丰富的探针-物质近场反应（tip-sample nearfield interaction）的信 …