找到您理想的xps仪器 为您的研究选择合适的XPS解决方案并非易事。 请花三分钟时间填写我们的XPS仪器产品选择器，并了解哪种X射线光电子能谱仪最适合满足您的表面分析需求。

Theta Probe XPS具有独特的功能，无需倾斜样品，可并行收集角度60°范围内的角分辨XPS谱。 这一特性方便了超薄膜的非破坏性表征。 仪器的重要特性

PHI’s scanning XPS microprobe instrument platform provides scanning X-ray induced secondary electron images (SXI) generated by scanning a focused sub-10 μm X-ray beam across the sample. Just like an SEM, SXIs can be used to navigate to areas of interest and to select areas for analysis in real time. SXI images provide 100% confidence in locating

xps 和haxpes 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的 分析 在两种x 射线源中，只有Cr Ka XPS 能探测到Y2O3 下方距离表面14nm 处的Cr 层。

Thermo Scoemtific K-Alpha 能谱仪适合于在表面分析实验室内大批量、快速测量。 多功能ESCALAB 250Xi集中了所有XPS技术和特点。 Theta Probe能谱仪为优质的角分辨XPS，专用于超薄膜。 在每一种仪器在表面分析测量中均能保证谱峰的质量。 我们及我们的关联方等通过运用Cookie等技术来为您提供您感兴趣的网站定制内容、识别访问者、保障安全登录和收集数据。 点击“全部接受”以接受所有 cookie 并直接跳转至网站，或点击“管理设置”以查看 cookie 类型的详 …

A focused X-ray beam, high sensitivity spectrometer, high performance floating column argon ion gun, turnkey dual beam charge neutralization, compucentric Zalar™ rotation, and advanced data reduction algorithms provide the highest performance XPS depth profiling capability available.

Theta Probe将微聚焦单色器用于源定义的 SAXPS，使其与大区域面积XPS 一样简洁。微 聚焦X 射线源能够实现轻松地采集表面的化 学状态影像。当与PARXPS 结合之后，可用于 创建高钾电解质或自组装单层膜等超薄薄膜 中化学成分分布的影像。

使用微区XPS分析技术进行准确的深度剖析. VersaProbe 4的高灵敏度微区分析和高度可重现的中和性能确保了深度分析的卓越性能。样品倾斜和样品旋转相结合，可同时实现高深度分辨率和高能量精度。 在不同起飞角（TOA）下获得的10 nm SiO2/ Si薄膜的深度剖析结果。

2021年11月3日 · PHI VersaProbe 4 采用新设计分析器，可实现从微小到大面积的高灵敏度分析。 独特的微聚焦扫描X射线和SXI影像，通过类似SEM的SXI影像可以作为样品导航，实现100%精准地定义微区分析位置。

X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS)，又称化学分析用电子谱(ESCA)，是一种常规的表面表征手段，除了可以表征材料的组成成分外，还可以表征各组成成分所处的化学状态，还有可定量的表征每种化学状态的相对含量；因而XPS广泛地应用于材料研究 ...