2020年12月18日 · Herein, we first prepared phospholipid coated Na 2 S 2 O 8 nanoparticles (PNSO NPs) as new ROS generation agents for in situ generating Na + and S 2 O 82– through gradual degradation, which can then be changed to toxic • SO 4– (a novel reported ROS) and • OH regardless of the amount of H 2 O 2 and pH value in the tumor microenvironment (TME).

To achieve the in situ oxidation of As(III) and simultaneous removal of both As(III) and As(V) in water, a novel-layered double hydroxide (Mg–Fe–S2O8–LDH) with the intercal...

Download scientific diagram | XPS spectra of the S2O8²⁻/Fe-ZrO2 catalyst. a–d Zr 3d, O 1S, S 2p, and Fe 2p spectra, respectively from publication: Novel S2O8/Fe-ZrO2 solid superacid catalyst...

xps，即x射线光电子能谱。 原理简单来说是将X射线光子入射到样品上，将样品的光电子和俄歇电子激发出来。 在阅读文献中，经常可以看到XPS图谱，用来分析样品表面元素的价态变化、成分和分子结构 下面以一个图来举例…

The results showed that an appropriate amount of Pd could promote the formation of acid sites, enhance the acidity of catalyst, improve the redox properties of the catalyst, and delay the decomposition of S2O8 2− effectively.

2024年12月15日 · XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的 峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构 等信息，从 峰强可获得样品表面元素含量或浓度（不常用）。 （2）XPS是一种典型的 表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但 只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。 样品的探测深度（d）由电子的逃逸深度（λ受X射线波长和样品状态等因素影响）决定，通常，取样深度d = 3λ。 对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非 …

In the XPS spectra of Fe 2p of FeOOH-30F (Fig- ure 5 A), two major peaks of Fe III together with two shake-up satellites (sat.) were observed at 711.3 (Fe 2p 3/2 ), 725.0 (Fe 2p 1/2 ), 719.8 (Fe...

xps 元素参照表 用于 XPS 的 Thermo Scientific™Avantage™ 数据系统的一个重要特征是拥有庞大的知识库，能提供 XPS 分析和元素表征相关的信息。 此处按元素周期表排列，给出了知识基础库。

xps谱图分析——主线 最强的光电子线常常是谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰，称为XPS谱图中的主线。 每一种元素(H和He除外)都有自己最强的、具有表征作用的光电子线，它是元素定性分析的主要依据。

X 射线光电子能谱( X-ray photoecectron spectroscopy， XPS) 技术是一种通过一束入射到样品表面3~10nm 深度的光子束，检测材料表面信息的无损测量技术。 XPS 技术能很好地使样品保持其原有的结构信息，可用于定性…