广东省科学院半导体研究所测试分析平台拥有一台高分辨XRD（日本理学RIGAKU Smartlab 9kW），最大功率为9kW，包含聚焦光的X射线粉末衍射、平行光X射线衍射、X射线双晶衍射、以及高分辨的四晶等衍射系统，测量精度高，分辨率高达0.0001°，除了测量常规的物相，还 ...

2022年8月22日 · X-ray diffraction is a common technique that determine a sample's composition or crystalline structure. For larger crystals such as macromolecules and inorganic compounds, it can be used to determine the structure of atoms within the sample.

In this tutorial article, we provide a foundation for the thin-film engi-neer/scientist conducting their first measurements using XRD. We give a brief introduction of the principle of difraction and description of the instrument, detailing the relevant operation modes.

2015年5月26日 · Rocking Curve (Omega Scan) is an useful way to study perfection when the planes are not parallel. It's done by fixing the detector at the center of the expected Bragg reflection and the sample is...

由于XRD数据中，衍射强度是d值（或者2theta，sin (theta),Q等）的函数，他们均为空间尺寸相关的量，因此XRD结果图准确的叫法应该是“图案”或“pattern”，而不是"谱"，只是现在文献里使用"谱"的越来越多，逐渐有了约定用法的趋势。 其实，最早的 X射线衍射 的结果也确实是拍出的照片,对衍射图案进行分析才得出材料的具体结构。 常见的其他实验结果，通常只要是和频率或者能量相关的，一般都可称为“谱”。 比如，X射线荧光光谱，X射线光电子能谱，核磁共振， 拉曼光 …

Rocking Curve. RC measurement reveals broadening of the diffraction peaks. The increase in the peak widths can be caused by: Mosaicity (misorientation of crystallites) Strain. Limited layer thickness. Typically XRD peak width is quantitatively described by …

2022年10月16日 · 该方法是固定探测器在2θ的位置，通过摇摆择优取向的晶格平面，利用半高宽度（FWHM）来表征择优取向的分布。 3.要求光路. 在利用X射线对材料进行表征时，通常有两种光路系统，一是聚焦光路，多用于粉末多晶材料的测试。 其主要构成如下图： 该光路系统利用对称反射的方式来获得平行于样品表面的晶面数据。 光路上的狭缝系统DS，SS，RS可以确保高强度，高分辨率的测试结果。 另一种为平行光路，多用于薄膜的表征，织构，应力表征总之，对于要 …

(Roentgenstrahlinterferenzen), commonly known as X-ray diffraction (XRD), and was direct evidence for the periodic atomic structure of crystals postulated for several centuries. The Braggs were awarded the Nobel Prize in physics in 1915 for their work in determining crystal structures beginning with NaCl, ZnS and diamond.

2021年10月13日 · X-ray diffraction (XRD) is an indispensable tool for characterising thin films of electroceramic materials. For the beginner, however, it can be a daunting technique at first due to the number of operation modes and measurements types, as well as the interpretation of the resultant patterns and scans.

2023年8月15日 · XRD是表征AlN晶体质量的一种重要手段，利用XRD测量AlN样品的摇摆曲线可以得到AlN样品的晶体质量。 测试摇摆曲线（Rocking Curve，有时缩写为RC）的时候，保持样品不动，探测器位置保持不变，同时样品法线方向与探测器表面法线方向之间的夹角也保持不变，然后在一定范围内改变X射线的入射角（X射线与样品样品表面的夹角ω），探测器检测不同ω下，待测晶面的X射线衍射强度。 ω变化范围的中心是待测晶面发生布拉格衍射时对应的入射角。 将X …