x射线衍射（xrd），x射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。 在用高能电子束轰击金属“ 靶 ”材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。

2024年7月29日 · We present, in this overview article, the main features of the ID15B beamline on the new ESRF Extremely Bright Source (EBS). The ID15B beamline was fully reconstructed in 2015, considering the new capabilities of the future EBS machine.

2021年3月29日 · 20世纪90年代以来，装配在SEM上的电子背散射花样（Electron Back-scattering Patterns，简称EBSP）晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展，并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。 该技术也被称为电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD）或取向成像显微技术（Orientation Imaging Microscopy，简称OIM） 等。 EBSD的主要特点是在保留扫描电子显微镜的常规特点的同时进行空间分辨率亚微米级的衍 …

Both single-crystal and powder XRD patterns reveal that the synthesized EBS is well aligned along the c axis with no secondary phase, as can be seen in Figs. 1 (a) and 1 (b). The cleaved...

2020年6月1日 · Tomography (XRD-CT), a five-dimensional chemical imaging technique which combines X-ray diffraction with tomographic data acquisition protocols, in some cases even with temporal resolution.

Please contact the beamline scientists for more detailed information as the new EBS beamline parameters have not yet been published and no reference can be given at this stage. Abbreviations are as following for each column from left to the right: XES , X-ray emission spectroscopy; NFS , nuclear forward scattering; NIS , nuclear inelastic

2024年8月18日 · 电子背散射衍射技术 （Electron Backscatter Diffraction, EBSD）是一种利用 衍射 电子束来鉴别样品 结晶学 方位的技术。 挂载在 扫描式电子显微镜 （Scanning Electron Microscopy, SEM）中，倾斜角度约70度，加速后的电子束射入样品中，产生反弹的背向散射电子，经过表面晶体结构衍射，携带着样品表面的晶粒方位的信息，进入探测器中，借此判断其每一颗晶粒的方向性。 在知道每一颗晶粒的方位后，因此可用在判断 晶界 （Grain boundary）、相 …

2017年1月1日 · Combined XRD and EBSD for studying microstructure gave a superb insight on anisotropic accumulation of defects. W-H and CMWP methods were applied for checking consistency of results. XRD showed that a smaller accumulation of defects occurred in crystals with < 220 >∥ ND.

背向散射电子衍射技术 （Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一种利用 衍射 电子束来鉴别样品 结晶学 方位的技术。 挂载在 扫描式电子显微镜 （Scanning Electron Microscopy, SEM）中，倾斜角度约70度，加速后的电子束射入样品中，产生反弹的背向散射电子，经过表面晶体结构衍射，携带着样品表面的晶粒方位的资讯，进入探测器中，借此判断其每一颗晶粒的方向性。 在知道每一颗晶粒的方位后，因此可用在判断 晶界 （Grain boundary）、相鉴别（Phase …

电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一项在扫描电镜中获得样品晶体学信息的技术。 EBSD利用背散射电子衍射，获取晶体取向（crystal orientation）、晶界取向差（grain boundary misorientations），物相等晶体学信息。 EBSD保留了扫描电子显微镜的特点，与金相、XRD、SEM等表征手段相比，其可获取更为丰富、精度更高的晶体学信息，从而可对样品表面的特征进一步分析。 当入射电子束进入样品后，会有部分电子因散射角大而从样品表 …