2015年3月5日 · XPS has been used to analyze composition and chemical states of the components in the samples. The XPS survey spectrum (Fig. 7 a) of the SeO 2 /TiO 2 indicates the peaks of elements Ti, Se, O, and C. Fig. 7 b–d shows …

Herein, a rapid, facile, green and controllable electrochemical deposition method is reported for the growth of SeO x films on the surface of Ni–Fe–selenide nanosheets (SeO x /FeNi x Se) through the hydrogen evolution reaction (HER) cycle process, which are used as highly active and stable electrocatalysts for the OER.

摘要 研究了Se、SeO 2 、As 2 Se 3 、ZnSe、CdSe、CoSe、FeSe、CrSe、VSe 2 和TiSe中Se 3 d峰的X射线光电子能谱 (XPS)。 发现，首先，在 As 2 Se 3 、ZnSe、CdSe、CoSe 和 CrSe 的情况下，随着阴离子电负性变化的增加，Se 3 d 峰的结合能值的变化也增加，并且其次，在所有研究的 Se 化合物中，纯 Se 中的 Se-Se 键强于 Se-x 键，其中 x = As、Zn、Cd、Co、Fe、Cr、V 和 Ti。 摘要 研究了Se、SeO 2 、As 2 Se 3 、ZnSe、CdSe、CoSe、FeSe、CrSe、VSe 2 …

The Basic XPS Information Section provides fundamental XPS spectra, BE values, FWHM values, BE tables, overlays of key spectra, histograms and a table of XPS parameters. The Advanced XPS Information Section is a collection of additional spectra, overlays of spectra, peak-fit advice, data collection guidance, material info,

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相？ XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …

在x 射线光电子能谱(xps)测试后，许多科研工作者对于如何处理和分析所得数据感到困惑。 为此，科学指南针团队特别整理了XPS测试后数据处理的相关教程，帮助科研圈的伙伴们更好地理解和应用XPS数据。

2024年12月15日 · XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的 峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构 等信息，从 峰强可获得样品表面元素含量或浓度（不常用）。 （2）XPS是一种典型的 表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但 只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。 样品的探测深度（d）由电子的逃逸深度（λ受X射线波长和样品状态等因素影响）决定，通常，取样深度d = 3λ。 对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非 …

用户可以轻松地通过匹配和参考数据库中的测试结果来分析xps数据。nist xps数据库有着多种检索方式，例如通过结合能检索未知谱线、通过选定元素检索xps数据、通过元素组成检索xps数据等，可以获得化学位移、俄歇参数、化合物、组分和参考文献等信息。

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