2003年1月21日 · 泰瑞达ATE测试系统J750 设备接口板(DIB) 探针接口板(PIB) 探针卡(Probe Card)硬件设计准则 15阅读 文档大小：1.38M 26页 YP 上传于2024-08-16 格式：PDF 泰瑞达ATE测试设备J750详细技术指标

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2014年8月29日 · J750 最新版的 DIB design guideline, 包括J750Ex, HD, IP750等设计要求。

作为所有 J750 型号（J750、Ex、HD）的升级版本，J750-LitePoint 充分利用了 IG-XL 的开发和调试能力，并集成了 LitePoint RF 工具套件和调制库。 J750-LitePoint 为高吞吐量 RF 信号处理提供了专用的板载仪器 DSP、一个丰富的无线软件库和一套全面的调试工具套件。

2024年9月26日 · 其用户手册深入浅出地介绍了J750的各项功能，包括但不限于系统配置、测试程序设定、数据采集和分析。在视觉方面，J750支持可视化界面，使得操作更加直观，用户可以通过图形化界面进行测试任务的设置和监控。 Chroma...

the new <strong>J750</strong> Standard <strong>PIB</strong> <strong>with</strong> <strong>HDVIS</strong> supports usage of the MSO in slot 7. When used in systems<br /> containing DPS instruments, all 32 DPS channels are supported.* This <strong>PIB</strong> also is compatible <strong>with</strong><br /> the <strong>J750</strong>Ex 200MHz ...

Preface<strong>Teradyne</strong> provides a variety of standard signal interfaceboards for the 750 series of test systems.

2013年3月3日 · The <strong>J750</strong> <strong>Standard</strong> 1024 <strong>PIB</strong> with <strong>HDVIS</strong> supports up to sixteen digital channel boards, four <strong>HDVIS</strong> or DPS boards, and 128 Utility Bits.

2024年8月17日 · 泰瑞达ATE测试系统J750 设备接口板(DIB) 探针接口板(PIB) 探针卡(Probe Card)硬件设计准则.pdf 26页 内容提供方 ： YP 大小 ： 1.39 MB

2020年7月23日 · 本手册的系统概述章节提供了J750512引脚测试系统的一般说明。 本章包括系统功能列表、系统主要组件的说明、J750组件的位置和基本说明，J750组件是J750的一部分。 有关电路板和组件的详细信息，请参阅本章其他章节手册。 那个以下信息包含在本章移动系统框图中. J750-512引脚测试系统提供测试各种复杂的超大规模集成（VLSN）设备所需的功能和灵活性，从测试仪产生一个测试头系统，可以坐在prbr:y awx 3 7.微控制器到ASIC之上，并建立在一个平 …