2003年11月1日 · In this paper, we present results of the growth of YN thin films on silicon substrates by laser ablation. The resulting films were characterized in situ by electronic spectroscopies and ellipsometry. The reaction between yttrium and nitrogen is very effective, producing high quality films.

2024年8月8日 · Based on data related to the aromatic structure, fatty carbon structure, and properties of heteroatoms obtained from ultimate analysis, FTIR, XPS, and 13 C NMR, the initial molecular model of YN was created using ChemDraw v22.0.0 software.

2021年9月1日 · In this work, bright yellow fluorescent nitrogen-doped carbon quantum dots (YN-CQDs) are produced by a facile, inexpensive and eco-friendly hydrothermal technique using extract of chlorophyll from lettuce leaf as precursor.

2004年3月1日 · In this study, a methodical routine based in PLD is used to synthesize nitrogen-containing films by ablating pure-element targets in molecular nitrogen environments. The resulting films are analyzed in situ by X-ray photoelectron (XP), Auger-electron (AE), and electron energy loss (EEL) spectroscopies.

X射线光电子能谱 （XPS） 是一种研究 物质表层元素组成与离子状态 的表面分析技术。 它的基本原理是用 单色射线 照射样品，使样品中原子或分子的电子受激发射，然后测量这些电子的能量分布。 通过与已知元素的原子或离子的不同壳层的电子的能量相比较，就可确定 未知样品表层中原子或离子的组成和状态。 由于XPS在分析 元素组成与化学环境 方面具有独特的优势，因此它在各个学科中都得到了广泛的应用。 无论何种档次的SCI论文，我们也总能见到它的身影。 然而 …

2024年12月15日 · （1）XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）,是一种收集和利用 X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布 的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的 峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构 等信息，从 峰强可获得样品表面元素含量或浓度（不常用）。 （2）XPS是一种典型的 表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但 只有样品近表面一薄层发 …

X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。 该过程可用下式表示： hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。 其中Er很小，可以忽略。 对于固体样品，计算结合能的参考点不是选真空中的静止电子，而是选用 费米能级，由内层电子跃迁到费米能级消耗的能量为结合能Eb，由费米能级进入真空成为自由电子所 …

X射线光电子能谱是一种具有高分辨率、高灵敏度的表面分析方法，可以对元素种类及化学价态等信息进行精准分析。XPS提供了10nm以内材料表面的化学成分，以及除H和He以外的所有元素的信息和0.1-1at.%的检测灵敏度，这使其成为表面表征的独特工具。

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相？ XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …

2020年9月18日 · X射线光电子能谱仪 (X-ray photoelectron spectroscopy) 简称 XPS 是表面分析的有力工具，它提供了元素价态等的信息，其中结合能是判断元素的关键，铄思百检测在这里与大家分享XPS结合能对照表，希望对大家的科研有帮助。