
Advanced Functional Materials - Wiley Online Library
2024年9月4日 · Advanced Functional Materials, part of the prestigious Advanced portfolio and a top-tier materials science journal, publishes outstanding research related to improving chemical and physical properties of materials.
一线大佬详解!关于AFM,读这篇文章就够了 - 知乎
2023年11月2日 · 二十世纪八十年代, 纳米技术 诞生并快速发展, 扫描隧道显微镜 (Scanning Tunneling Microscope,STM)和 原子力显微镜 (Atomic Force Microscope,AFM)为此奠定重要基础,实现了材料表面的分子/原子级成像,并开启了纳米尺度的测量,但STM基于隧穿电流的工 …
一文看懂原子力显微镜(AFM) - 知乎 - 知乎专栏
AFM全称Atomic Force Microscope,即 原子力显微镜 ,它是继 扫描隧道显微镜 (Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。
原子力显微镜 - 百度百科
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的 作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。 由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察 非导体,从而弥补了 扫描隧道显微镜 的不足。 原子力显微镜是由 IBM 公司苏黎世研究中心的 格尔德·宾宁 于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似 扫描探针显微镜 (SPM)的观测方法。 原子力显微镜(AFM)与 扫描隧道显微镜 (STM) …
AFM原子力显微镜基本原理、样品要求、分析方法、常见问题
2024年3月12日 · 原子力显微镜(afm)是一种纳米级表面形貌和物理性质测量技术,能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。afm 作为一种重要的纳米级表征技术,是基于量子力学原理,通过检测原子间的作用力来实现对样品表面的高分辨率成像及物理性质测试。
科研工具 | AFM图片处理——保姆级教程(一) - 知乎专栏
2024年12月26日 · Nanoscope Analysis是一款专门用于原子力显微镜(AFM)数据处理的软件,它提供了多种图像处理和分析功能,包括实用的游标分析、颜色表编辑、线性验证等。
AFM:N掺杂TiO2-x负载Zr单原子,构建受阻Lewis对促进NO3RR …
电化学还原硝酸盐 (NO3RR)合成NH3在环境条件下具有环境矫正和高能源效率的优点,已成为Haber–Bosch合成氨的一种有前途的替代方法。 其中,设计和开发高效的电催化剂是提高NO3RR效率的关键。 在NO3RR中,人们一直致力于提高NO3−吸附和转化的缓慢动力学。 由于NO3−是Lewis碱,产生具有缺电子特征的Lewis酸中心将有助于NO3−与催化剂相互作用,促进NO3−的解离和活化。 此外,带正电荷的Lewis酸位点可以通过通过静电排斥干扰两个H+还原 …
原子力显微镜 (AFM)原理 - Park Systems
电化学原子力显微镜(EC-AFM)是一种可选模式,用于监测样品表面由氧化还原(redox)反应引起的变化。 在EC-AFM中,电位计与AFM结合,用于控制工作电极(样品)、参比电极和浸入液体电解质中的计数电极之间的电压电位,并测量其之间的电流。
Dynamic AFM modi • Intermittent/tapping mode: – oscillating cantilever, tip touching surface gently and frequently – often used for biological samples – imaging in air and liquid – good resolution • Non contact mode: – oscillating cantilever, tip not in contact with sample – used for soft samples –imngn vugaiumica
Atomic Force Microscopy - an overview | ScienceDirect Topics
Atomic force microscopy (AFM) is an influential surface analysis technique used for micro/nanostructured coatings. This flexible technique can be used to obtain high-resolution nanoscale images and study local sites in air (conventional AFM) …
VASP自旋(NM、AM、AFM) - CSDN博客
2021年9月7日 · 本文详细介绍了在vasp中进行自旋相关计算的过程,包括非磁性(nm)、自旋极化(am)和反铁磁性(afm)的设置。通过ispin参数、magmom和saxis等参数的调整,讨论了如何进行磁性材料的计算,以及如何处理fm和afm的计算与比较。
Imaging modes of atomic force microscopy for application in …
2017年4月6日 · Here, we review the basic principles, advantages and limitations of the most common AFM bioimaging modes, including the popular contact and dynamic modes, as well as recently developed modes such...
Atomic Force Microscope (AFM) – Principle, Parts, Procedure, Uses
2025年1月27日 · Atomic force microscopy (AFM) is an imaging technique that can capture images at the nanoscale. It works like an electron microscope, but instead of imaging with light or electrons, it “feels” the surface it is trying to assess.
读懂AFM原理、测试及应用 - 知乎 - 知乎专栏
sem 和afm 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。 sem 需要真空环境中进行,而afm 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。
Atomic Force Microscopy: An Introduction | SpringerLink
2023年10月13日 · Atomic force microscopy (AFM) meets these demands in an all-in-one instrument. It provides high-resolution images including surface height information leading to three-dimensional information on sample morphology. AFM can be …
Generation, manipulation and characterization of molecules …
2017年1月11日 · Atomic force microscopy (AFM) enables the imaging and manipulation of individual molecules at atomic resolution. This Review addresses experimental considerations,...
Atomic force microscopy (AFM) for materials characterization
2016年1月1日 · Atomic force microscopy (AFM), although a relatively newly developed technique, has now become a powerful technology for characterization of the surface of materials down to the atomic scale. AFM can be used to obtain nanoscale chemical, mechanical (modulus, stiffness, viscoelastic, frictional), electrical, and magnetic properties.
Atomic Force Microscopy - SpringerLink
Atomic force microscopy (AFM) is a scanning probe technique used to measure very small forces (as low as <1nN) and produce very high resolution, three-dimensional images of sample surfaces. The AFM is capable of investigating surfaces of both conductors and insulators on …
Manipulation of Antiferromagnetic Metal Phase in Nd
2 天之前 · Quite recently, an AFM ground state is discovered in Nd 1-x Ce x NiO 3, an oxide whose undoped parent counterpart exhibits metal-insulator transition dependent on temperature. Herein, the engineering of the AFM state by epitaxial strain in Nd 1-x Ce x NiO 3 (0 ≤ x ≤ 0.07) films is demonstrated, where both Néel temperature and the metal ...
Atomic force microscopy in super-resolution - Nature Methods
2021年8月5日 · Atomic force microscopy (AFM) allows imaging the surface of biomolecules and can in principle be used to determine structures of proteins or protein...
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