2021年6月1日 · In scattering SNOM, a laser is focused onto a metallized atomic force microscope (AFM) probe, which excites a tightly confined near-field (a non-radiative electromagnetic field) at the probe’s...

Near-field scanning optical microscopy (NSOM) or scanning near-field optical microscopy (SNOM) is a microscopy technique for nanostructure investigation that breaks the far field resolution limit by exploiting the properties of evanescent waves.

摘要 扫描近场光学显微镜（SNOM）因其具有可达10 nm量级的超高光学分辨率与光谱分析能力，为物理、化学、材料科 学和生命科学等领域的若干重要前沿基础科学问题提供了强有力的高时空分辨的光学表征工具。

2018年5月21日 · In s-SNOM, elastically scattered light from a sharp metallic tip operated in an atomic force microscope (AFM) over sample surface is measured by an optical detector 22, 23. Near-field...

Basic principle of s-SNOM: (1) focus light onto a sharp AFM tip; (2) illuminated tip creates strong near-field nano-focus at tip apex; (3) nano-focus probes optical properties of the sample modifying the

This webinar introduces two main techniques for nanoscale IR measurements: Photothermal AFM-IR (PTIR/AFM-IR) and IR-based Scattering Scanning Nearfield Optical Microscopy (IR s-SNOM). The presenter – Bruker expert Cassandra Phillips, Ph.D. – differentiates AFM-IR and s-SNOM by comparing them to more familiar techniques:

德国Neaspec公司提供的新一代近场光学显微镜采用了这一散射式技术，高分辨率可达10nm，并通过的赝外差数据分析模式，同时解析强度和相位信号，解决了纳米材料尤其是在红外光谱范围的近场光学成像难题。 近几年，散射式近场光学显微技术在局域表面等离子激元，无机材料表面波传导，二维材料声子极化，近场光电流，半导体载流子浓度，高分子材料鉴别和生物样品成像等领域研究得到了广泛的应用，并已然成为了推动光学物理、材料应用发展的重要工具。 中红外光谱 …

互补的afm-ir和散射snom图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。通过访问关于质的结构的辐射 （s-snom） 和非辐射 （afm-ir） 信息，可以获得独特且互补的质质属性。

afm和snom成像时都需要用到光，afm需要用一道较细的激光打到针尖上用以确定位置（针尖高度的变化反映到激光的位置变化）；而snom需要用到光照射到物体上产生 倏逝波 再转化成传播的光波进行成像，为了使得信号更加明显，同样需要使用到光强更强的激光 ...

WITec 系统的模块化设计可将不同的成像技术融于一台仪器中，如拉曼成像、荧光、明暗场照明、原子力显微镜 (AFM) 以及近场光学显微镜（SNOM 或 NSOM），从而进行更广泛的样品分析。 通过旋转物镜轮塔，可在不同模式之间轻松切换。 拉曼和 AFM. 通过将共聚焦拉曼成像与 AFM 结合，可以很容易地将样品的化学性质与表面形貌结构对应起来。 WITec推出的拉曼-AFM联用显微镜通过这两种互补技术，可以实现灵活、广泛的样品表征与分析。 拉曼和 SNOM. 拉曼光谱分析 …