The V93000 EXA Scale system employs Advantest's patented Xtreme Link technology, a communication network designed specifically for automatic test equipment (ATE). The technology provides high-speed data connections, embedded computing power, and instant card-to …

前面提到了V93000包含了两种系列的测试平台， 分别是 SmartScale 和 EXA Scale. 首先来看一下SmartScale包含了哪些测试板卡。 93KSmart Scale是一种可扩展的测试平台，这里包含了现在所能支持的一系列板卡。 是可以支持的数字板卡， PS1600， PS9G, PSSL. 我们现在最常用的是Pin Scale1600，1600表示这块板卡数字通道所能达到的最大data rate是1600Mbps。 这块板卡包含128个数字通道，同时还包含一些直流测试单元，最高精度可以达到1mV.universal pin是指它 …

2023年5月29日 · 文章介绍了V93k这种高级ATE机台，用于半导体测试，具备高速、多功能、高可靠性和灵活性等特点。 硬件包括测试头、板卡等，软件基于Linux但易用。 DPS64和PS1600是两种重要的板卡资源，Smartest是其软件系统，包含EWC、testflow等多个方面。 1.入芯片测试行业已经接近两年,想要系统的把知识罗列起来,便于之后的学习以及回顾,遂开始. 1.1什么是93k机台？ 1.93k是一种 ATE 机台,ATE是自动测试设备（Automatic Test Equipment）的缩写，是一种用 …

2024年3月8日 · 爱德万测试（Advantest）的V93000系列测试系统是一个高度模块化和可扩展的平台，专为复杂和高性能的半导体器件测试而设计，包括系统级芯片（SoC）、存储器、射频（RF）和混合信号器件等，附件为advantest 93000 7.10.8 pdf资料文档

2025年1月5日 · V93000，通常被称为93k机台，是一种高端的ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）机台，由日本公司Advantest开发。 V93000支持多种测试模式，包括数字、模拟、射频、混合信号等，使其能够适应不同类型芯片的测试需求。

2024年12月18日 · V93000，通常被称为93k机台，是一种高端的ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）机台，由日本公司Advantest开发。 V93000支持多种测试模式，包括数字、模拟、射频、混合信号等，使其能够适应不同类型芯片的测试需求。

V93000消费类SOC方案是最佳的低成本测试方案，能够克服最新一代消费类芯片的混合信号测试所带来的挑战。 V93000 多能的数字方案覆盖所有数字应用需求，包括从晶圆测试到性能测试，从消费类芯片到高端芯片，所有的一切都在单一平台上实现，使得客户能最大受益于其多功能性。 力求每个die更多功能以及更低的功耗，因此，移动设备驱动节点技术使得每个芯片有更长的电池寿命成为了可能。 数字设备（逻辑和内存）使得业界加工工艺步骤不断减少。 随着集成度的提 …

2019年3月27日 · Smart Test, Smart ATE, Smart Scale！爱德万 V93000 Smart Scale 系列产品以新的板卡， 新的功能正在设立测试新标准。没有最好，只有更好！

2023年1月15日 · TM（test method）测试方法的意思，在V93000机台它是基于C++编写的程序代码。 在TM创建时，首先在Device 文件并行的路径下新建“XXX_tml”的文件夹，然后该文件夹里创建“Test Method Project”,在该测试方法工程里建立“test method class”。 在ATE测试程序中，每一个test method作为一个类，测试流程（testflow）中每个testsuite作为类的一个对象。 在test method中，有两个必须有的成员函数：initialize ()和run ()。 initialize ()函数，当一个新 …

Advantest’s V93000 Smart Scale generation incorporates innovative per-pin testing capabilities. Each pin runs it own sequencer program for maximum flexibility and performance, for example in multisite applications. Full test processor control ensures time synchronization between all card types, like digital, Power, RF, mixed signal and so on.