Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) detects very low concentrations of dopants and impurities. The technique provides elemental depth profiles over a wide depth range from a few angstroms (Å) to tens of micrometers (µm).

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is an analytical technique that detects very low concentrations of dopants and impurities. It can provide elemental depth profiles over a depth range from a few nanometers to tens of microns. SIMS works by sputtering the sample surface with a focused beam of primary ions.

SIMS tutorial from EAG Laboratories includes SIMS primary ion sources, ion energy analyzers, Sputtering and elemental effects

eag是sims分析的行業標準， 提供最佳檢測限，以及準確的濃度和層結構識別。 eag 在 sims 領域的經驗和承諾的深度和範圍是無與倫比的。 eag 擁有全球範圍最廣的二次離子質譜儀（超過 40 種），由非常合格的科學家組成。

二次离子质谱（sims）可检测极低浓度的掺杂和 杂质含量。 二次离子质谱（SIMS) EAG SMART（光谱和显微镜分辨率工具）图为比较分析技术提供了简明的视觉参考。

EAG Laboratories 在材料測試服務方面擁有超過 40 年的經驗。 我們的母公司 Eurofins Scientific 是一家價值數十億美元的全球科學服務領導者，擁有超過 200,000 種經過驗證的分析方法。 我們提供諮詢、多學科的方法來解決您的材料和工程相關產品問題。 作為調查科學的思想領袖，我們為材料測試服務設定了全球標準。 EAG實驗室為我們的客戶提供廣泛的知識基礎和熟練的專業技能，並在全球裝設了2,500多台儀器設備。 這種能力使我們能夠根據您的需求和時間限制進行量身訂 …

SIMS（Secondary ion mass spectrometry : 二次イオン質量分析法）は極低濃度のドーパントや不純物を検出する分析手法です。 試料表面を一次イオンでスパッタし、スパッタによって放出された二次イオンを四重極型（Quadruple）・磁場型（Sector）等の質量分析計で分離 ...

2023年8月3日 · 知乎，中文互联网高质量的问答社区和创作者聚集的原创内容平台，于 2011 年 1 月正式上线，以「让人们更好的分享知识、经验和见解，找到自己的解答」为品牌使命。知乎凭借认真、专业、友善的社区氛围、独特的产品机制以及结构化和易获得的优质内容，聚集了中文互联网科技、商业、影视 ...

EAG Laboratories strives to provide our customers with extra value through exclusive features, such as our SIMSview™ data viewing and processing software for SIMS data. You can change the graph appearance, overlay files, and print or export the results, all within a few minutes.

二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）是现代表面分析技术中重要的组成之一。 它是利用一次离子束轰击材料表面，通过质谱分析器检测溅射出来的带有正负电荷的二次离子的质荷比，从而得到样品表面…