透射电子显微镜（tem）是以极短波长的电子束作为照明源，经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放大，最后投射到荧光屏上 …

场发射扫描电子显微镜（FESEM）是 电子显微镜 的一种。 该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。 该仪器利用二次电子成像原理， …

2023年1月1日 · TEM working with a field emission source will be defined as “FE-TEM.” A three or four stage condenser-lens system allows the illumination aperture and the field of view …

Talos-F200X该仪器配备超高亮度场发射电子枪、洛伦兹透镜、电子全息丝、四分割STEM探头、Gatan Oneview和Ceta双相机、四对称EDS能谱仪、多型原位样品杆以及丰富的电镜数据采集 …

主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析、原子级的元素成分分析。 可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察，结合高灵敏度的EDS能谱仪可以实现快速的成分分析。

场发射透射电子显微镜（fe-tem） 介绍： 场发射透射电子显微镜利用高速透射电子成像，可以实现纳米材料的形貌、高分辨晶格像的获得，实现选区电子衍射、纳米束衍射等晶体显微结构的表 …

2025年2月23日 · The JEM 2100 FE-TEM, a field-emission gun transmission electron microscope, is a state-of-the-art and fully equipped ultra-high resolution analytical TEM that is capable of …

场发射透射电子显微镜可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。 2024年1月20日，由生物岛实验 …

tem：材料試片之微細組織，晶體結構之缺陷觀察，擇區繞射定結晶結構。 儀器訓練操作申請須知

2024年9月1日 · Morphological, crystallographic, and elemental analysis of bulk and nanoscale materials. Provides excellent contrast for biological as well as materials samples with double …