一文读懂FIB-SEM原理及应用 - 知乎 - 知乎专栏
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope，简称FIB-SEM)双束系统是指同时具有聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。 通过结合相应的 …
高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000 : 日立高新技术在中国
以理想的方式配置sem/fib/ebsd检测器 *1 ，在fib加工与ebsd分析之间无需移动样品台即可实现3d-ebsd。因为无需移动样品台，所以可大幅提高三维晶体取向分析的精度和效率。
聚焦离子束显微镜FIB技术介绍 - 知乎 - 知乎专栏
聚焦离子束(ed Ion beam, FIB)的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器，目前商用系统的离子束为 液相金属离子源 (Liquid MetaIon Source,LMIS)，金属材质为 镓 …
Enhanced FIB-SEM systems for large-volume 3D imaging - PMC
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) can automatically generate 3D images with superior z-axis resolution, yielding data that needs minimal image registration and …
3D 电子显微镜 | 扫描电子显微镜成像 | Thermo Fisher Scientific - CN
DualBeam（聚焦离子束 - 扫描电子显微镜，即 FIB-SEM）仪器可通过连续交叉切片（SEM 成像和 FIB 铣削的顺序应用）在纳米分辨率下采集高质量的 3D 数据集。 等离子 (PFIB)
FIB-SEMによる3D再構築 | 材料分析サービス | NTT-AT 先端技術 …
FIB-SEMとはFIB（Focused Ion Beam:集束イオンビーム）装置で試料の加工、露出した断面のSEM（ scanning electron microscope;走査型電子顕微鏡）観察をします。 3D（3次元）再構 …
Super-resolution for asymmetric resolution of FIB-SEM 3D …
2018年4月12日 · Scanning electron microscopy equipped with a focused ion beam (FIB-SEM) is a promising three-dimensional (3D) imaging technique for nano- and meso-scale morphologies. …
跟着顶刊学测试｜马里兰大学AFM:三维聚焦离子束（3D FIB）成像 …
2020年7月19日 · 3D成像技术的使用（例如，聚焦离子束（FIB）层析成像技术和X射线计算机层析成像技术（CT））在支撑电极微观结构研究方面起着关键作用。 在这些方法中，FIB层析成像 …
浅谈聚焦离子束扫描电镜FIB-SEM的制样说明 - 知乎
聚焦离子束技术 （Focused Ion beam，FIB）是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面，实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。 FIB采用高强度聚焦离子束纳米加 …
聚焦离子束技术 FIB-SEM 构建三维纳米结构 - 哔哩哔哩
聚焦离子束技术 FIB-SEM 构建三维纳米结构共计12条视频，包括：Focused Ion Beam TEM Lamella Prep Tutorial、ZEISS Webinar Multiple Ion Beam Microscopy for Advanced …