双束聚焦离子束-扫描电镜 （Dual Beam Focused Ion Beam, FIB）作为一种先进的微观加工与分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域。 其不仅可以制作常见的截面透射电子显微镜（TEM）薄片样品，还能根据不同的研发表征需求，对材料样品的表面进行平面加工制样。

fib-tem联用系统 由于TEM样品需要非常薄，电子才可以穿透，形成衍射图像。 FIB的高效溅射可实现对样品的精细加工，因此FIB常用于TEM超薄样品的制备优化上。

FIB技术 （聚焦离子束）是什么. 利用静电透镜将离子束聚焦成2~3nm的离子束轰击材料表面，以实现对材料的剥离、沉积、注入、切割和改性等纳米加工操作。 FIB技术的优势有哪些？ 1.操作简单、前处理步骤少，对样品污染和损害程度相对低；

聚焦离子束（FIB）技术作为一种超精细的样品制备手段，能够加工金属、合金、陶瓷等多种材料，制备出宽度为10~20μm、高度为10~15μm、厚度为100~150nm的薄片。 这使得FIB不仅能对纳米材料的指定位置进行截面处理，以供SEM进行形貌分析，还能高效制备TEM所需的指定位置样品，成为SEM与TEM之间的桥梁。 近年来，随着微型化技术的发展，FIB技术在微纳结构制造领域的应用日益广泛，成为不可或缺的关键技术之一。 FIB的技术原理. FIB的基本工作原理是用加速 …

2023年7月3日 · 聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB) 的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。目前商用系统的离子束为液相金属离子源，金属材质为镓(Ga)，因为镓元素具有低熔点、低蒸气压及良好的抗氧化力;典型的离子束显微镜包括液相金属离子源、电透镜 ...

fib-tem联用系统 由于TEM样品需要非常薄，电子才可以穿透，形成衍射图像。 FIB的高效溅射可实现对样品的精细加工，因此FIB常用于TEM超薄样品的制备优化上。

2009年4月30日 · The focused ion beam technique (FIB) is an ideal tool for TEM sample preparation that allows for the fabrication of electron-transparent foils with typical dimensions of 15 × 10 × 0.150 µm from any region of interest (i.e., site-specific) and in virtually any material.

在研究人员感兴趣的样品区域内定点制备高质量的透射电子显微镜(TEM) 样品是双束系统在材料科学领域最重要的应用之一。 聚焦离子束制备TEM试样的基本流程如下： 1. Platinum deposition：用电子束或离子束辅助沉积的方法在待制备TEM试样的表面蒸镀Pt保护覆层，以避免最终的TEM试样受到Ga离子束导致的辐照损伤； 2. Bulk-out：在带制备的TEM试样两侧用较大的例子束流快速挖取“V”型凹坑； 3. U-cut：在步骤（2）中切取出的TEM薄片上切除薄片的两端 …

2024年8月16日 · 为了方便大家对材料进行深入的失效分析及研究，金鉴具备Dual Beam FIB-SEM业务，包括透射电镜( TEM)样品制备，材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析等。

A FIB workstation. Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor industry, materials science and increasingly in the biological field for site-specific analysis, deposition, and ablation of materials.A FIB setup is a scientific instrument that resembles a scanning electron microscope (SEM). However, while the SEM uses a …