2012年1月1日 · Modern FIB/SEM machines are equipped with both, ion and electron optical columns, which make them perfect tools for serial sectioning at high resolution (see Figure 11.3).

双束聚焦离子束-扫描电镜（Dual Beam Focused Ion Beam, FIB）作为一种先进的微观加工与分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域。 其不仅可以制作常见的截面透射电子显微镜（TEM）薄片样品，还…

Whether you are integrating a new cryo-FIB to your cryo-TEM or implementing an entire workflow, our team of experts will set you up for success. Cryo electron tomography (cryo ET) provides 3D snapshots of the cellular context at nanometer resolution. Explore resources and solutions to implement cryo tomography into your research.

FIB系统无需掩膜版，可以直接刻出或者在GIS系统下沉积出所需图形，利用FIB系统已经可以制备微纳米尺度的复杂的功能性结构，包括纳米量子电子器件，亚波长光学结构，表面等离激元器件，光子晶体结构等。 通过合理的方法不仅可以实现二维平面图形结构，甚至可以实现复杂三维结构图形的制备。 2、截面分析. 利用FIB溅射刻蚀功能可定点切割试样并观测横截面（cross-section）来表征截面形貌尺寸，还可配备与元素分析（EDS）等相结合的体系来分析截面成 …

FIB技术 （聚焦离子束）是什么. 利用静电透镜将离子束聚焦成2~3nm的离子束轰击材料表面，以实现对材料的剥离、沉积、注入、切割和改性等纳米加工操作。 FIB技术的优势有哪些？ 1.操作简单、前处理步骤少，对样品污染和损害程度相对低；

Tomography is a method in which a 3-D structure is reconstructed from a series of 2-D projections (images) acquired at successive tilts (Radon 1917). First developed for use in medical imaging (1963, Nobel Prize for Medicine in 1979) using X-rays, ultrasound and …

In a typical FIB-SEM tomography experi-ment, the specimen, often embedded in a resin, is situated at the coincident point of the FIB and SEM beams. Generally, solid specimens are pre-viously sputtered with metal overlays to protect the sample surface during FIB milling and to increaseitsconductivity,inthecaseofspecimens

2023年7月3日 · 聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB) 的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。目前商用系统的离子束为液相金属离子源，金属材质为镓(Ga)，因为镓元素具有低熔点、低蒸气压及良好的抗氧化力;典型的离子束显微镜包括液相金属离子源、电透镜 ...

冷冻电镜单颗粒分析技术（cryo-EM SPA）是一种以单颗粒形式分析生物分子组装的新方法，通过将负染电镜筛选获得的合适浓度的生物分子样品快速冷冻，使生物大分子以近天然状态存在于无定形冰中，然后进行冷冻样品的筛选、数据收集和三维结构解析，从而获得高分辨率的生物分子结构，其工作流程见图1。 冷冻电子断层扫描（CryoET）是一种无标记的冷冻成像技术，能以纳米分辨率提供细胞环境的 3D 快照。 用冷冻双束机台对低温冷冻（玻璃化）细胞进行冷冻聚焦离子 …

2022年3月30日 · The combination of focused ion beam (FIB) with scanning electron microscopy (SEM), also known as FIB-SEM tomography, has become a powerful 3D imaging technique at the nanometer scale. This method uses an ion beam to mill away a thin slice of material, which is then block-face imaged using an electron beam.