
当半导体PIE要知道的65个问题 - 知乎 - 知乎专栏
答:Liner oxide 为1100C, 120 min 高温炉管形成的氧化层,其功能为: ①修补进STI etch 造成的基材损伤; ②将STI etch 造成的etch 尖角给于圆化( corner rounding)。
[求助] 工艺流程中的一个步骤HDP-OXIDE Deposition - EETOP
2017年5月10日 · 工艺流程中有一道工序是HDP-OXIDE Deposition ,请问这道工序是做什么的? 还有HDP是什么意思,由什么单词缩写而成的? 4楼正解,High Density Plasma,是一边dep一边etch的工艺,防止出现void空洞。 好像是0.18/0.152um的process。 GMT+8, 2025-3-19 20:10 , Processed in 0.023241 second (s), 9 queries , Gzip On, MemCached On. 工艺流程中有一道工序是HDP-OXIDE Deposition ,请问这道工序是做什么的? 还有HDP是什么意思,由什么单词缩 …
芯片制造的核心工艺:一文看懂薄膜沉积 - 知乎
磁控溅射是一种在靶材背面添加磁体的PVD方式,利用溅射源在腔室内形成交互的电磁场,延长电子的运动路径进而提高等离子体的浓度,最终实现更多的沉积。 磁控PVD等离子体浓度更高,可以实现极佳的沉积效率、大尺寸范围的沉积厚度控制、精确的成分控制等,在当前金属薄膜PVD中处于主导地位。 磁控溅射PVD主要用于Al金属籽晶层、TiN金属硬掩膜。 磁控溅射PVD中的磁控DCPVD是应用最广泛的沉积方式,特别是对于平面薄膜的沉积,比如Al互连的金属层,但 …
半导体逻辑成熟代工工艺 (0.18/0.13um)的相关step function 讲 …
答:gate oxide是先用湿氧氧化,然后用dry oxide的方式形成的。 DRY OXIDE 生长的氧化物结构、质地、均匀性均比WET OXIDE好,但用WET OXIDE 形成的氧化物的TDDB比较长。
高密度等离子体化学气相淀积(HDP CVD) 工艺 - 百度文库
在 hdp cvd 反应腔中,主要是由 电感耦合等离子体反应器(icp)来产生并维持高密度的等离子体。 当射频电流通过线圈 (coil)时会产生一个交流磁场,这个交流磁场经由感应耦合即产生随时间变化的电场,如 图 6 所示。
High-density-plasma (HDP)-CVD oxide to thermal oxide wafer …
2007年1月30日 · In this report we have carried out a systematic investigation of the bonding behavior between a high-density-plasma chemical vapour deposition (HDP-CVD) oxide and a thermal oxide (TO).
大佬们能说一下半导体的八大工艺流程是什么吗? - 知乎
dry oxide 生长的氧化物结构、质地、均匀性均比wet oxide好,但用wet oxide 形成的氧化物的tdbb比较长。 TDBB即TIME DEPENDENT DIELECTRIC BREAKDOWN,其是用于评估氧化物寿命的参数。
SiO2 HDP CVD - Enigmatics
Oxide from high density plasmas, using RF bias on the substrate to enhance ion bombardment energies, has become an accepted approach to oxide deposition for low-temperature requirements. Originally developed for intermetal dielectrics, HDP oxides are also employed in isolation trench fill and dielectrics over polysilicon, as pre-metal thermal ...
高密度等离子体化学气相淀积(HDPCVD)工艺 - 百度文库
本文所介绍的高密度等离子体化学气相淀积(hdp cvd)工艺自20世纪90年代中期开始被先进的芯片工厂采用以来,以其卓越的填孔能力、稳定的淀积质量、可靠的电学特性等诸多优点而迅速成为0.25微米以下先进工艺的主流。
Direct wafer bonding between high-density-plasma chemical vapour deposited (HDP-CVD) oxide and thermal oxide (TO) has been investigated. HDP-CVD oxides, about 230 nm in thickness, were deposited on Si(0 0 1) control wafers and the wafers of interest that contain
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