2023年4月2日 · SEM adalah metode statistik multivariat yang memungkinkan untuk menguji dan memodelkan hubungan antara variabel-variabel yang kompleks. Metode ini dapat menguji model hipotesis dan mengidentifikasi hubungan antara variabel laten dan variabel terukur.

Scanning electron microscopy adalah salah satu mikroskop electron yang digunakan untuk menyelidiki permukaan dari sebuah objek solid secara langsung. SEM memiliki perbesaran dari 10 hingga 3.000.0000 kali, depth of field 4 – 0.4 mm dan dengan resolusi sebesar 1-10 nm.

2022年12月1日 · SEM digunakan terutama untuk karakterisasi topografi permukaan material atau tata letak perangkat/sirkuit mikro. Sampel dapat dipindahkan dalam bidang x-y dan juga dapat

Dari Gambar 4.4 dapat dilihat hasil pengujian SEM dari katalis ZnO, dan komposit ZnO/reduced graphene oxide dengan variasi massa. Pada Gambar 4.4a yang merupakan gambaran SEM dari ZnO berbentuk spherical tampak seperti kumpulan bola yang menggumpal.

SEM : instrumen paling serbaguna untuk pemeriksaan dan analisis struktur mikro, morfologi dan karakterisasi komposisi kimia. SEM memiliki kedalaman bidang yang besar, yang memungkinkan sejumlah besar sampel menjadi fokus pada satu waktu dan menghasilkan gambar yang merupakan representasi yang baik dari sampel tiga dimensi.

2024年10月15日 · SEM adalah alat mikroskop yang menggunakan elektron daripada cahaya untuk menghasilkan gambar. Berbeda dengan mikroskop optik konvensional, SEM menggunakan serangkaian elektron yang diarahkan pada sampel. Interaksi antara elektron dan sampel menghasilkan sinyal yang kemudian digunakan untuk membuat gambar tiga …

Alat yang digunakan untuk melakukan analisis struktur mikro dari spesimen hasil sambungan adalah Scanning Electron Microscope (SEM) yang dilengkapi dengan system Energi Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS), yang terdapat di Laboraturium. Gergaji besi digunakan untuk memotong bahan untuk pengujian SEM.

Scanning Electron Microscopy (SEM) Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu mencapai 200nm sedangkan elektron bisa mencapai resolusi sampai 0,1 – 0,2 nm. Dibawah ini diberikan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan elektron.

Dispersive X-ray (SEM EDX) banyak digunakan sebagai karakterisai suatu material karena mampu mendapatkan hasil topologi dan nilai konsentrasi atomik dari suatu bahan. Dalam penelitian dilakukan uji SEM EDX dengan sampel resin

Analisis SEM-EDS adalah metode yang bagus untuk menentukan ukuran partikel dan komposisi dasar. Ini juga merupakan teknik analisis untuk melakukan karakterisasi nano. Analisis SEM dapat dilakukan sebagai bagian dari analisis lapisan film untuk menentukan ketebalan film.