j750ex-hd 是市面上成熟、久经验证的汽车 mcu 测试平台。 该测试系统旨在提供稳定的芯片测试结果，并配备相应的软件工具，以帮助验证测试程序，提供高质量的测试方案，这一点对汽车市场至关重要。

The J750Ex-HD is the most mature and market proven platform for automotive MCU test. The test system is designed to provide repeatable device test results and is equipped with software tools to help verify the test program to provide the highest quality testing which is …

2025年2月4日 · 泰瑞达j750ex-hd测试平台-板卡. 高速数字 800 板卡 (hsd800)，提供数字功能和特性分析测试; 内存测试选配件 (mto)，用于嵌入式内存测试; 数字信号发射和接收 (dssc)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号; 深度扫描历史 ram (dshram)，适用基于 dft 的 scan 测试

2024年9月26日 · 这份手册涵盖了J750和J750Ex型号的多种硬件参数，具体包括： APMU Specifications : 电源管理单元的详细规格。 CTO Specifications : 时钟和触发单元的详细规格。

2025年1月15日 · 2.泰瑞达j750ex-hd测试平台-板卡. 高速数字 800 板卡 (hsd800)，提供数字功能和特性分析测试; 内存测试选配件 (mto)，用于嵌入式内存测试; 数字信号发射和接收 (dssc)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号; 深度扫描历史 ram (dshram)，适用基于 dft 的 scan 测试

2014年8月29日 · J750 最新版的 DIB design guideline, 包括J750Ex, HD, IP750等设计要求。

IP750Ex-HD 是可靠的第四代测试系统，具有测试图像传感器的能力，可向当前和未来的图像传感芯片提供成本低的测试方案。 我们的客户深知，泰瑞达遍布全球的应用支持提供了无与伦比的测试专业能力。 这一切都诠释了图像传感器市场始终将 IP750Ex-HD 图像传感器测试系统作为首选测试解决方案的原因。 一直以来，IP750EX-HD 测试平台支持着业界不断制造出高质量的 CCD 和 CMOS 图像传感器，该平台也是满足飞行时间 (ToF) 传感器等新技术需求的经济的平台。 每当 …

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2019年9月10日 · 美国Teradyne J750系列测试设备，包括J750、 J750EX、J750EX-HD、IP750等不同配置型号。 它们全部采用IG-XL的测试应用开发及测试管理系统，该系统基于Windows操作系统和Excel表格式编程，具有易学易用、高效灵活的特点，特别适合多品种、小批量的测试程序开发 …

2023年12月7日 · J750Ex-HD 32 位 MCU 芯片在线测试技术是目前广泛使用的一种芯片测试技术。 该技术针对 MCU 芯片在线测试需求设计，具有高可靠性、高效性、高灵活性等优点，被广泛应用于 MCU 生产和测试领域。 J750Ex-HD 32 位 MCU 芯片在线测试技术可以实现全面的芯片测试，包括自动测试生成、快速测试和精准测试等功能。 该技术通过... 于 基于 J750Ex-HD 的 的 32 位 位 MCU 芯片在线测试技术 现代电子设备越来越复杂，导致系统中集成的微控制器单元 …