该结构中包括了在IEEE 1149.1标准中所定义的所有的 JTAG模块，其中包括测试端口控制器 TAP (Test Access Port) Controller 模块、 指令寄存器IR (Instruction Register) 模块以及 数据寄存器DR (Data Register) 模块。 其结构以及各模块间的控制关系大致如下图所示： TAP将根据TRST (Test Reset)、TCK (Test Clock)、TMS (Test Mode Select )三个输入信号而产生一组对IR与DR的控制信号。 它对测试接入端口提供的控制序列作出响应，并产生TAP的控制序列 (时钟和控制信号 …

JTAG (Joint Test Action Group，联合测试工作组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1 兼容）,标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和 数据输出 线， (还有可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效)。 2、TAP Controller. TAP Controller 是一个16位的有限状态机，扫描测试的每个环节都由它来控制。 TAP Controller 由TMS在时钟上升沿触发，主要有以下三方面的功能： producing control signals to load and …

JTAG (Joint Test Action Group，联合测试工作组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试. JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port，测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。 JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试. 4) ATPG. ATPG (Automatic Test Pattern Generation)自动测试向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生 …

2021年4月7日 · Analog/IP DFT比较常用的架构有Internal/External Loopback, JTAG program test，IO pin test muxing， embedded reg/mem sampling 等等。 这部分重点是需要和 Analog/IP designer 紧密合作，共同确定后续lab和量产测试的spec；还有就是因为包含了Analog部分，如何完成仿真验证需要特别注意。

2012年8月13日 · IEEE 1149.1边界扫描测试标准 (通常称为JTAG、1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。 为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。 大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1 (JTAG)标准。 如果系统采用的是复杂 …

2020年6月20日 · An easy to understand explanation of boundary scan implementation in DFT using the JTAG industry-standard. We'll study the JTAG architecture from scratch.

JTAG设备可以有单个的连接器，以提供TAP信号的访问，然而，它们也可以被连接成一个“菊花链”格式从一个器件的TDO信号连接到下一个器件的TDI信号。 所有设备的TCK，TMS和（可选）nTRST信号必须并联连接在一个“菊花链”格式。 重要的是nTRST信号没有直接连接到地，因为这将完全禁用JTAG，不仅对单个器件，还有完整的扫描链。 如果可能，TAP信号要远离其他积极的信号，以降低噪声和提高信号的完整性。 串行JTAG接口通常会运行的时钟频率为10MHz …

2023年7月30日 · DFT（DesignforTest）是集成电路设计中的关键环节，旨在提高芯片的可测试性。主要技术包括扫描路径设计、内奸自测试（BIST）、JTAG协议和ATPG自动测试向量生成。DFT工程师负责芯片级DFT设计、测试向量生成及与各设计团队的协作，确保测试覆盖率和效率。

2023年9月5日 · DFT意为Design For Testability，可测性设计，是在芯片功能电路设计好之后（有时也会在设计好前并行进行，节省时间）插入一定的测试电路，方便在流片之后对芯片的缺陷进行测试。

JTAG is the acronym for Joint Test Action Group, a name for the group of people that developed the IEEE 1149.1 standard. The functionality usually offered by JTAG is Debug Access (through User Data Registers) and Boundary Scan (through Boundary Scan Registers) –