The KLA 2135 is a wafer inspection system based on a high-speed digital imaging technique, which is widely used for in-line monitoring. Figure 18.3 shows different types of defects …

KLA/TENCOR 2135是一种先进的掩模和晶片检测系统，能够检测具有高质量、高通量图像的亚纳米缺陷，并具有先进的缺陷检测和表征算法，提供了卓越的图像质量和工艺优化。

KLA/TENCOR 2135是一款前沿掩模和晶片检测设备，为先进的半导体制造工艺提供高速、高精度的分析，具有自动缺陷检测、晶片表面映射、缺陷分类等特点。

KLA/TENCOR 2135是一種先進的掩模和晶片檢測系統，能夠檢測具有高質量、高通量圖像的亞納米缺陷，並具有先進的缺陷檢測和表征算法，提供了卓越的圖像質量和工藝優化。

KLA/TENCOR 2135是一種掩模和晶片檢測設備，能夠檢測半導體晶片和掩模中的缺陷。 它具有高分辨率激光基底成像系統，能夠快速準確地檢測缺陷。

Equipment description: ‧Purpose: Patterned Wafer Inspection System, to monitor Patterned wafers particles and defects for yield manager. ‧Model: KLA-Tencor 2135 ‧Original …

2024年9月23日 · KLA-Tencor 2135 是一款功能强大且高效的掩模和晶圆检测设备，适用于半导体工业中各种复杂和精细的检测需求。 KLA-Tencor 2135 晶圆检测仪是一种高duan的掩模和晶 …

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KLA/TENCOR 2135是一个先进的掩模和晶圆检测系统，具有高分辨率的成像系统，自动光学变焦和对焦，自动调平和自动对比度，并且能够捕捉到亮场和暗场图像。

2025年2月4日 · At Bridge Tronic Global, our refurbishment services breathe new life into used semiconductor manufacturing equipment, ensuring peak performance at a fraction of the cost. …