With sensitivity to detect classical defects (intrusions, extrusions, and point defects), the TeraScan 597XRS can inspect numerous reticle types including chrome-on-glass, sub-resolution optical …

KLA/TENCOR TeraScan SL597XR是一种用于半导体制造和计量行业的掩模和晶圆检测设备。 它结合了KLA TeraScan SL系列产品的前沿光学检查和成像能力以及功能强大的TENCOR …

2022年4月12日 · KLA’s team of engineers developed state-of-the-art technologies that provide the Teron SL670e and Teron SL670e XP systems with the performance required to accurately …

2024年9月25日 · 半导体检测领域的领头羊kla科磊（简称kla）的产品线广泛且深入，覆盖了半导体制造和相关电子行业的多个关键环节。 KLA的产品线主要包括用于检验、测量、数据分析的系 …

凭借独特的技术和强大的连接性，我们的392x和295x检测器和eDR7380检测系统构成合作组合，为先进逻辑IC、DRAM、3D NAND从研发到批量生产的过程提供全方位的解决方案，针对 …

KLA / TENCOR TeraScan SL597XR is a mask and wafer inspection equipment used in the semiconductor manufacturing and metrology industry. It combines the leading-edge optical …

kla/tencor 597xr是一种高精度的掩模和晶圆检测工具，结合光学技术、自动化工艺和测量能力，对半导体制造工艺提供高度精确的成像和分析。 KLA / TENCOR 597XR 晶圆检测仪 用于销售价 …

kla/tencor 597xr是一種高精度的掩模和晶圓檢測工具，結合光學技術、自動化工藝和測量能力，對半導體制造工藝提供高度精確的成像和分析。 KLA / TENCOR 597XR 光罩與晶圓檢測設備 用 …

2007年3月15日 · Designed to handle the demands of the 45nm node, with its small linewidths and complex OPC, the TeraScanHR system features higher imaging resolution and precise …

KLA Tencor's TeraScan is a defect detection scanner that evaluates masks, or 'reticles' used in the microelectronics and semiconductor fabrication (wafer fab) process, insuring that they are …