Products - KLA
2022年12月6日 · KLA’s comprehensive portfolio of inspection, metrology & data analytic systems helps manufacturers manage yield through the entire IC fabrication process.
2万字长文：从KLA看量测设备的护城河 - 虎嗅网
2023年5月10日 · 根据VLSI Research 统计，2020年全球前五大半导体量测公司KLA、应用材料、日立、雷泰光学和创新科技市场份额合计超过82.4%，市场集中度较高， KLA一家独大，全球 …
KLA-芯片制程控制之王 - 知乎 - 知乎专栏
1998-1999年，KLA连续收购了干涉测量(德国Nanopro)、扫描电子显微镜(美国 Amray)、产线图像管理(美国 VARS)和硅片缺陷分析(美国 Uniphase)等技术。 到了新世纪，KLA收购的脚步并没 …
Metrology Tools and Defect Inspection Instruments and Equipment - KLA
The KLA Instruments service group offers a global network of fast, responsive and flexible support options to accommodate your unique needs and maximize your uptime. Learn more. KLA …
[半导体检测-3]：半导体检测领域的领头羊KLA科磊的产品线_kla半 …
2024年9月25日 · 半导体检测领域的领头羊kla科磊（简称kla）的产品线广泛且深入，覆盖了半导体制造和相关电子行业的多个关键环节。kla的产品线主要包括用于检验、测量、数据分析的系 …
2022年8月8日 · The FaST Division Special Terms for Magazines and TouchCAPRES Down Guarantee (the “Magazine Terms”) - describes the scope, details, and requirements that apply …
KLA-Tencor的Puma 91xx晶圆检测系统提高2倍生产力
2006年9月22日 · 为提升制造能力，Puma采用了KLA-Tencor的快速适应单一启始值(Fast Adaptive Single Threshold，FAST) 算法，大幅减化了Puma应用设定的程序，从而减少了建立与调整应 …
KLA BBP 40th Anniversary
Introduced in 1984, the KLA 2020 was the first automated patterned wafer inspection system for chip production, replacing manual inspection by human operators. By providing fast and …
揭秘顶尖科技前沿_4---KLA半导体设备全览-安徽锐芯智研半导体科 …
2024年9月3日 · CryoTemp晶圆旨在校准、改善均匀性和匹配静电吸附盘 (ESC)上的温度曲线，可实现对等离子体蚀刻腔体的快速工艺表征和控制. 监测并记录晶圆在设备传送路径上的振动和 …
KLA 薄膜测量解决方案 - 知乎 - 知乎专栏
基于kla专利z-点阵技术，通过在光路中增加高精度聚焦模块—z点阵网格，使系统能够精确无误地探测到各点上焦面的位置，并且该探测过程不受样品表面粗糙度和反射率的限制，极大地扩展 …
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