我们可以对系统主芯片进行TLP测试，如此一来即可测得主芯片在ESD能量下的箝制电压，藉此我们就能与TVS的TLP图形来对应。 针对主芯片的箝制电压来挑选箝制电压更低的TVS。 这能帮助许多产品研发工程师在产品设计时间减少Try and Error的花费以及调整设计的时间成本。 这也是近期众多品牌厂纷纷导入TLP测试方式，来针对自家产品做ESD验证的原因。 可以发现主芯片在ESD 3.1A能量下的箝制电压为11.1V，因此我们应挑选箝制电压更低之TVS。 由此图形可看出: 在 …

What does a TLP waveform look like? What variations are there for TLP waveforms? How do these variations affect the TLP test? What kinds of packages can be tested? How is a TLP waveform generated? What happens when the waveform hits the DUT? How is resistance measured with a TLP pulse? Why use both a Voltage probe and a Current probe?

2024年4月13日 · tlp是一种利用传输线产生短脉冲来测试集成电路保护结构抗esd能力的方法。 可以用于集成电路ESD防护设计的仿真，达到集成电路ESD防护结构设计目的. 与HBM、MM等ESD测试模型相比，TLP不仅可以测量ESD的失效阈值，还可以提供详细的数据来了解元器件的失 …

TLP: Transmission Line Pulse，传输线脉冲发生器，是一种集成电路静电放电防护技术的研究测试手段。 与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同，传输线 脉冲发生器 发出的是静电模拟方波，而传统模式发出的则是RC-LC模式的脉冲波形，与之相对应的，传统的HBM等波形更直接的模拟了现实中的某种静电形式，而TLP通过调节上升沿和脉冲宽度，间接地模拟了这些静电脉冲形式的损伤能力和不同上升沿CLAMP触发能力。

TLP（Transmission Line Pulse）测试 又称为传输线脉冲测试，是于对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。 1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法，与传统的 HBM 、 MM 、 CDM 、 IEC模型 不同，传输线脉冲发生器发出的是 静电模拟方波 ，而传统模式发出的则是 RC ...

In electrical engineering, transmission-line pulse (TLP) is a way to study integrated circuit technologies and circuit behavior in the current and time domain of electrostatic discharge (ESD) events. The concept was described shortly after WWII in pp. 175–189 of Pulse Generators, Vol. 5 of the MIT Radiation Lab Series.

2021年6月8日 · At Sofics we use different TLP systems. There are 2 TLP systems from Barth Electronic, a VF-TLP from the same company and additional TLP systems built using off-the-shelve pulse generators that allow to investigate ESD devices using pulses with longer duration. Sofics engineers use TLP analysis for different reasons.

2017年6月14日 · 什 么 是 T • 传输线脉冲 (Transmission-Line Pulse - TLP) 测试是一种通过测量时域的电流电压来 L 研究集成电路及其特性的ESD测试方法。 P 测 试 • 历史: ？ • 由于对电磁脉冲环境感兴趣， Wunsch 和 Bell 于20世纪60年代研究了半导体结的 7 脉冲功率故障 。 8 • 20世纪60年代，Bradley, Higgins等人用带电传输线生成了矩形波 。 9 • 20世纪80年代， Maloney和Khurana提出了用传输线脉冲对ESD建模 。 • 第一台商用TLP系统由Barth Electronics在20世纪90年代中 …

2024年12月8日 · TLP（Transmission Line Pulse）测试又称为传输线脉冲测试，是对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。 1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法，与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同，传输线脉冲发生器发出的是静电模拟方波，而传统模式发出的则是RC-LC模式的 ...

iec 62615:2010是一项关于电静电放电敏感性测试的标准，主要针对元件级别的传输线脉冲（tlp）测试。 该标准规定了测试方法、测试设备、测试程序和测试结果的评估方法，以确保元件在实际使用中不会受到电静电放电的影响。