What Is WLR Test Software? - NI - National Instruments
Wafer-Level Reliability (WLR) Test Software gives you access to NI’s massively parallel and flexible parametric test system that reduces cycle time and increases data insight velocity. The …
提供高度 并行 的晶圆级可靠性，缩短产品上市时间 - NI
ni的半导体晶圆级可靠性(wlr)解决方案以业界领先的通道密度、并行性和测量速度，帮助用户更快速获取信息。 提供高度 并行 的晶圆级可靠性，缩短产品上市时间 - NI
Accelerate Time to Market with Highly Parallel Wafer-Level Reliability - NI
NI’s Semiconductor Wafer-Level Reliability (WLR) Solution provides faster insight with industry-leading channel density, parallelism, and measurement speed.
NI_(주)누비콤은 NI 공식 총판대리점입니다.
전압, 전류, 온도, 압력 또는 사운드와 같은 전기적 또는 물리적 현상을 측정 하는 프로세스입니다. NI의 새로운 LCR 계측기는 다양한 어플리케이션에서 DC 및 임피던스 측정을 효율적으로 …
应用指南 | 如何进行晶圆级可靠性测试？ - 知乎专栏
2023年10月7日 · 经常使用应力测量技术的wlr测试包括 热载流子注入 （hci）或沟道热载流子（chc）、负偏置温度不稳定性（nbt）、 电迁移率 、 时间相关介电击穿 （tddb）和 电荷击 …
NI即将参展ICChina，锁定NI展位号#E2-101 - laoyaoba.com
2020年10月9日 · ni 晶圆级可靠性（wlr）解决方案以行业领先的通道密度为晶圆可靠性提供了更高测试并行度和测量速度。 该解决方案由NI WLR应用软件，高性能fA级SMU组成，并具有灵活 …
借助PXI SMU实现高度并行的晶圆级可靠性系统 - 搜狐
2016年8月11日 · 使用基于pxi的smu构建wlr系统，您可以在维持合理的每通道占用空间与成本的同时，将数百个smu通道添加到系统中。 美国国家仪器（ni） smu专用于构建自动化测试系统， …
2017年11月13日 · 架構並非 wlr 系統全新引進的概念，ni smu 卻能提供遠比現有解決方案 數量更多的通道。 透過基於 ni pxi 的 wlr 系統，smu 能夠提供下列優勢： 1. 高密度
Wafer-Level Reliability Test Toolkit Download - NI
The Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit is a software add-on for LabVIEW. You can use this add-on with PXI Source Measure Units to perform semiconductor device reliability …
Wafer Level Reliability: Enhance your reliability decisions with ...
2020年10月23日 · NI’s Wafer Level Reliability (WLR) Solution provides faster insight with industry-leading channel density, parallelism, and measurement speed. The video shows our …