MX63和MX63L显微镜系统经过优化，适用于最大尺寸300 mm的晶圆、平板显示器、电路板以及其他大尺寸样品的高质量检测。 其采用的模块化设计使您能够选择需要的组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时，保持检测员的工作舒适性。 与PRECiV图像分析软件结合使用时，可以简化从观察到报告创建的整个工作流程。 设计满足电子行业的人体工学和安全性要求，并以更多功能提高分析能力。 简化的显微镜设置 …

2017年6月27日 · The new MX63 and MX63L industrial microscopes have been designed for the inspection of large samples, especially semiconductors and FPDs. The MX63 can be used with wafer diameters up to 200mm and the MX63L with diameters up to 300mm.

晶圓及面板用顯微鏡 mx63 / mx63l 符合 SEMI S2 / S8 CE及 UL 國際規範標準，專為無塵室工作環境下降低晶圓樣本受汙染破損之風險機率，採用先進的光學成像技術能力及舒適人體工學設計大型載物台專用 300 x 300mm 機種

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。 其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 MX63和MX63L 显微镜 系统特别适合尺寸*大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。 其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒 …

2017年6月27日 · 今回発売する「MX63／MX63L」は、主に半導体・FPDなど、サイズが大きいサンプルの検査に特化した工業用顕微鏡で、MX63は200mm、MX63Lは300mmまでの大きさのウエハーに対応しています。

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奥林巴斯MX63半导体检测显微镜为用户确保了四个等级的优势：快速入门、简易操作、失败分析和扩展功能。 MX63和MX63L显微镜系统具有多种功能，采用符合人体工学的易用设计，能够提供最大300 mm晶圆、平板显示器、印刷电路板以及其他大型样品的高质量观察。

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸高达300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。 其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。 1、先进的分析工具. MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。 全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和 …

2022年6月29日 · MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。 其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。 在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下，可以简化从观察到报告生成的整体工作流。 让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅MX63和MX63L显微镜系统特别适合 …

the new Olympus MX63 and MX63L microscopes offer users the features, flexibility and ease of use to inspect large industrial samples quickly and easily. Designed for precision inspections on electronic equipment, users can choose either the MX63 microscope for wafers up to 200 mm or the MX63L for wafers up to 300 mm.