
SONOSCAN P300 C-SAM 超声波扫描显微镜 - befirst-tech.com
为了提高生产车间内微电子元器件的筛查效率,Sonoscan 专门设计了Fastline™ P300™ 超声波扫描显微镜。 作为超声显微成像技术的新平台,Fastline的紧凑设计缩小了占地空间,其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC托盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中 ...
AMI P300 System/Nordson Test & Inspection
With an integrated design to minimize footprint, the FastLine is the newest and most efficient platform C-SAM Acoustic Microscope. Every detail of the FastLine P300 was engineered to match the way customers want to use Acoustic Microscopes for non …
FastLine P300 C-SAM®システム - Nordson
FastLine P300 は、設置面積を最小限に抑えた、最新かつ最も効率的なプラットフォーム型 C-SAM 音響顕微鏡です。 FastLine P300は、非自動化生産とプロセスコントロールのためにお客様が望む音響顕微鏡の使用方法に合うように細部まで設計されています。
Introducing the new FastLineTM series of C-SAM® systems for Production line use ... Model . What’s different about P300? ... the factory floor! Some of the features incorporated into the new system are ...
CSAM, Acoustic Microscopy | CWI Technical Sales
FACTS² simultaneously inspects two trays or modules with precision of ± 0.5 microns and utilizes multiple scan heads, improving throughput between two and seven times that of previous tools. The Gen7™ C-Mode Scanning Acoustic Microscope is the latest generation in Acoustic Microscopy Imaging (AMI) innovation.
超声波扫描显微镜:C-SAM检测系统 _参数_价格-仪器信息网
超声显微成像仪FastLine P300,FACTS2 DF2400。 FastLine P300的紧凑设计将占地面积减到最小,其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中的另一个托盘上等待扫描。 FastLine已经成为高效元器件筛选的新平台。 • 占地面积最小化最适宜在车间使用。 FACTS2自动检测JEDEC托盘或工业标准载盘 (Auer Boat Carrier) 中的器件。 该FACTS2也可以处理引线框架条,IGBT功率模块,多层陶瓷贴片电容,倒装芯片和其他组件。 …
SONOSCAN / NORDSON Fastline P300 显微镜 用于销售价格 …
SONOSCAN/NORDSON Fastline P300是一款功能强大的台式机SEM,设计用于分析高分辨率表面特征,分辨率高达200 µm的视野,并具有用于各种成像任务的自动样品处理功能。
el P300 ent about was engin y custom roductio oor! e feature stem are has bee as been in c feature ronics p onolytic Model P Scannin FastLi for Pro ™ P300? … eered spe ers use A n and pro s incorp … n optim tegrate s provid latform s™, the 300: Ge g and S ne™ ser duction cifically M system cess cont orated ized for d to min e operat ...
高精度超音波顕微鏡 C-SAM | 日本バーンズ株式会社
超音波顕微鏡C-SAMは、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 サンプルに対して発信された超音波の反射をとらえ、サンプル内部の任意の深さの状態を画像化することで、接合界面の剥離や封止材内部のボイド、クラックなどの不良箇所を非破壊で測定することができます。 (※超音波顕微鏡は日本国内ではSATという名称で呼ばれることもあります。
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C-SAM XðlâbkcÏ
我们先进的C-SAM技术是全球顾客最信赖的技术,它可以用于检测多种多样产品的缺陷—尤其是检测各层之间的粘合程度和材料的完整性。 Nordson SONOSCAN发明了适用于商业领域的超声显微术(AM),尤其是C-SAM超声波扫描技术。 我们的科学家和工程师与应用开发团队密切合作,坚持不懈地开发先进的系统和技术。 不懈努力的结果是超凡卓越的技术实力,我们拥有20多个美国和国外专利,不断带给客户信心和额外的附加价值。 质量决定信誉。 正因如此,NordsonSONOSCAN的 …