
In-Situ XPS Study of the Aluminum Poly(p ... - ResearchGate
2011年1月1日 · The chemical and electronic properties of aluminum/poly (p-phenylenevinylene) (PPV) interfaces were studied in situ using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It was observed that the...
【求助】利用XPS数据如何计算原始的原子比?_仪器信息网社区
2008年12月9日 · 我是在中国科大测的XPS,测试老师给了这一系列的数据,但我不知道他是利用表格中的哪些数据来计算At.%,而且这里有两个At.%分别代表什么意思? 请教各位老师,谢谢!
完全弄懂X射线光电子能谱(XPS) - 知乎
2024年12月15日 · (1)XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱),是一种收集和利用 X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布 的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的 峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构 等信息,从 峰强可获得样品表面元素含量或浓度(不常用)。 (2)XPS是一种典型的 表面分析手段。其根本原因在于:尽管X射线可穿透样品很深, 但 只有样品近表面一薄层发 …
(PDF) The chemical and electronic structure of the interface …
The interaction between aluminum and ct-(e-diphenyltetradecaheptaene (DP7), asexithienyl (6T), and poly(p-phenylenevinylene) (PPV), respectively have been studied using both X-ray Photoelecu'on Spectroscopy (XPS) and Ultraviolet Photoelectron
基础理论丨一文了解XPS(概念、定性定量分析、分析方法、谱线 …
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱), 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相? XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …
XPS数据分析工具Avantage(附有安装包)下载安装教程,以及使 …
2024年10月8日 · Thermo Avantage是一款使用X光光电子能谱(XPS)进行材料表面分析的软件工具,由Thermo Fisher Scientific公司开发。 Thermo Avantage利用先进的数据处理和量化技术,实现了对XPS数据的深入解析和直观呈现。
In situ XPS study of the interactions of evaporated ... - ResearchGate
2000年5月1日 · The interface between evaporated aluminum and poly(p‐phenylenevinylene) (PPV) was studied in situ using x‐ray photoelectron spectroscopy (XPS). PPV has potential for use in electroluminescent...
XPS study of interfaces in a two-layer light-emitting diode made …
Abstract X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used to investigate the interfacial chemistries occurring in a prototype two-layer polymer light-emitting diode that had been fabricated from PPV and Nafion with ion-exchanged Ru (bpy) 3 2+ .
X射线光电子能谱(XPS)谱图分析 - 知乎 - 知乎专栏
在XPS谱图上,通常能够明显出现的是 自旋-轨道偶合 能级分裂谱线。这类分裂谱线主要有:p轨道的p3/2 p1/2,d轨道的 d3/2 d5/2和 f 轨道的 f5/2 f7/2,其能量分裂距离依元素不同而不同。
XPS数据处理软件Avantage:判定元素种类、处理元素间谱峰重叠 …
目前X射线光电子能谱(XPS) 技术是应用非常广泛的的一种 表面分析技术 ,其可以提供材料表面3~10 nm左右的元素组成及化学态信息。 与其他表面分析手段 俄歇电子能谱仪 (AES) 、 二次离子质谱仪 (SIMS) 等相比,XPS的最大特点便是 能获取丰富的化学信息,并且对 ...