XPS analysis of surface layer of sol-gel-derived PZT thin films
2004年1月1日 · The crystalline phase and composition of sol-gel-derived lead zirconate titanate (PZT) thin films were successfully analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The …
AES and XPS study of PZT thin film deposition by the laser …
1999年3月1日 · AES and XPS data of these thin films indicates that during the growth of PZT there is Pb deficiency in the thin film that can be compensated by using a target of PZT with …
Effect of SrRuO3 layer thickness on electrical properties of …
2020年5月1日 · The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) results show that oxygen vacancies are accumulated at the PZT/SRO interfaces, which can reduce the depolarization fields and …
XPS Studies of PZT Films Deposited by Metallic Lead and Ceramic PZT …
2017年3月5日 · The dependence of the chemical states of the constituent elements of a PZT thin film prepared by RF magnetron co-sputtering using ceramic PZT and metallic Pb dual target …
The crystalline phase and composition of sol-gel-derived lead zirconate titanate (PbZrxTi1 xO3, PZT) − thin films were determined by an X-ray photoelectron spectroscopic (XPS) data …
铁电材料锆钛酸铅（PZT）的合成与性能研究 - 豆丁网
2012年1月28日 · 球磨法合成了pzt固溶体的初级粉，进一步烧结制备出pzt陶瓷。 使用 XRD、Raman结构表征手段和XPS、热膨胀、介电测量等物性测试技术研究
X射线光电子能谱在PZT成分定量分析中的应用 ... - X-MOL
1993年1月1日 · X 射线光电子能谱 (XPS) 用于确定锆钛酸铅 (PZT) 系统中铅 (Pb)、锆 (Zr) 和钛 (Ti) 的相对含量。 标准样品是由金属氧化物混合物通过固态反应制备的具有多种 Zr/Ti 比率的 …
超全面对比讲解两种重要表面分析技术——AES和XPS - 知乎
材料的表面分析技术主要有3种： 俄歇电子能谱分析 （aes）、 x射线光电子能谱分析 (xps) 、 原子力显微镜 （afm），今天主要对比学习前两种。什么是电子能谱分析法？
Compositional depth profile by XPS of the PZT thin film prepared …
Despite the low processing temperature used, complementary analysis by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) revealed that the presence of retained carbon in these films is null. Figure …
The dependence of the chemical states of the constituent elements of a PZT thin film prepared by RF magnetron co-sputtering using ceramic PZT and metallic Pb dual target materials on …
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