
SDY-4型四探针测试仪
SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试专用仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术,利用HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快速,并能实现晶片厚度自行修正,打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4四探针测试仪 本 …
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sdy-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国a.s.t.m标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.
RTS-8 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的, 专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻) 的专用仪器。 仪器由主机、 探针测试台、 四探针探头、 计算机等部分组成,测量数据既可由四探针测试仪主机直接显示, 亦可与计算机相连接通过四探针软件测试系统控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析, 然后把测试数据以表格, 图形 …
四探针测试仪操作规程 - 道客巴巴
2014年1月25日 · 1. 接上电源, 开启主机, 此时“r ” 和“i” 指示灯亮。 预热约 5 分钟。 2. 检查工作条件: 工作温度 23±2℃, 相对湿度为 65%, 满足以上条件方可进行下面操作。 3. 根据硅片的直径厚度以及探针的修正系数, 计算出所测硅片和标准样片的电流值。 。 4.
SDY-4型四探针测试仪技术说明书.pdf - 豆丁网
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四探针测试仪操作规程 - 百度文库
sdy-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国astm标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
SDY-4型四探针测试仪 - 百度文库
SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试专用仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术,利用HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快速,并能实现晶片厚度自行修正,打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 C键盘控制打印全部测 …
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SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试仪器.仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术,利用HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快速,并能实现晶片厚度自行修正,打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4四探针测试仪 本仪器 …
SDY-4型 四探针测试仪 - 化工仪器网
2018年5月14日 · SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术,利用HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快速,并能实现晶片厚度自行修正,打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4 本 …
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