Yttrium nitride thin films grown by reactive laser ablation
2003年11月1日 · Yttrium nitride thin films were grown on silicon substrates by laser ablating an yttrium target in molecular nitrogen environments. The composition and chemical state were determined with Auger electron, X-Ray photoelectron, and energy loss spectroscopies. The reaction between yttrium and nitrogen is very effective using this method.
Structural Characteristics of the Yunnan Deashed Lignite and ...
2024年8月8日 · Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and 13 C nuclear magnetic resonance (NMR) spectroscopy of deashed lignite and gas chromatography and mass spectrometry (GC/MS) of methanol lignite …
XPS N 1s peak assignments and positions | Download Table
The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and near-edge X-ray absorption fine-structure (NEXAFS) spectroscopy, with their strong sensitivity to the local environment and bonding around...
XPS图谱分析之-N1s 图谱分析（氮化物、有机氮、吡啶吡咯氮）
免费的材料分析、检测技术纯干货来了，XPS图谱分析之-N1s 图谱分析（氮化物、有机氮、吡啶吡咯氮）。 探究号会陆续更新更多技术包括（XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc）原理、应用、数据分析等；以及材料分析、失效分析相关案例；欢迎有分析检测、技术培训需求的小伙伴和同行们积极评论、收藏和转发！ 我们专注于材料分析技术培训、分析方案制定、分析案例分享和数据解析。 欢迎有测试和分析需求的小伙伴关注我们，并在评论 …
x射线光电子能谱 - 百度百科
X射线光电子能谱是一种具有高分辨率、高灵敏度的表面分析方法，可以对元素种类及化学价态等信息进行精准分析。 XPS提供了10nm以内材料表面的化学成分，以及除H和He以外的所有元素的信息和0.1-1at.%的检测灵敏度，这使其成为表面表征的独特工具。 表面分析主要用于多相催化、纳米科学、腐蚀、半导体、生物医学和摩擦学等领域。 1887年， 海因里希·鲁道夫·赫兹 发现了 光电效应，1905年， 爱因斯坦 解释了该现象（并为此获得了1921年的 诺贝尔物理学奖）。 两 …
【技能】XPS的测试与数据分析 - 知乎 - 知乎专栏
利用xps谱图鉴定物质成分：利用某元素原子中电子的特征结合能来鉴别物质 自旋-轨道偶合引起的能级分裂，谱线分裂成双线（强度比），特别对于微量元素。
基础理论丨一文了解XPS（概念、定性定量分析、分析方法、谱线 …
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相？ XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …
表面化学显微镜：原位XPS技术详解-测试狗·科研服务
2024年11月7日 · 表面化学显微镜，特别是原位X射线光电子能谱（XPS）技术，是一种强大的分析工具，用于研究材料表面的化学状态和组成；原位 XPS技术是一种表面分析技术，能够提供样品表面的化学信息，包括元素的种类、化学状态、电子态和化学结构；与传统的XPS技术相比，原位XPS能够在特定的环境条件下（如不同的温度、压力、气氛等）实时监测样品表面的化学变化，这对于理解材料在加工或反应过程中的行为至关重要。 一、原理. XPS基于光电效应原理，使 …
科研神器： X射线光电子能谱（XPS）谱图分析 - CSDN博客
2023年9月14日 · 文章详细介绍了x射线光电子能谱(xps)技术，包括其基本原理、电子能谱法的特点、在元素定性与定量分析、固体表面分析以及化合物结构鉴定中的应用，强调了化学位移的重要性。
X射线光电子能谱(XPS)谱图分析 - 知乎 - 知乎专栏
X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。 该过程可用下式表示： hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。 其中Er很小，可以忽略。 对于固体样品，计算结合能的参考点不是选真空中的静止电子，而是选用 费米能级，由内层电子跃迁到费米能级消耗的能量为结合能Eb，由费米能级进入真空成为自由电子所 …
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