Olympus便携式X 射线衍射仪BTX可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量，并形成了定性、定量的岩性识别方法，为录井随钻岩性快速识别、建立地质剖面提供了技术保障。 每种矿物都具有其特定的X 射线衍射图谱，样品中某种矿物含量与其衍射峰和强度成正相关关系。 在混合物中，一种物质成分的衍射图谱与其他物质成分的存在与否无关，这就是X 射线衍射做相定量分析的基础。 X 射线衍射是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值 (点阵类型、晶胞大小 …

XRD （X-ray Diffraction）中文全称是 X射线衍射，是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术。 作为一种表征晶体结构及其变化规律的手段，其应用遍及材料、化学、生物、医药、陶瓷、冶金、矿产等诸多领域。 但大多数新同学对于XRD的测试原理一知半解，对其应用停留在简单的物相鉴别阶段，对其不同样品的测试要求和注意事项也不甚清楚。 在此，我们用最简洁易懂的语言对XRD 从原理到应用 进行了详细的总结，希望能给大家一些帮助。 2.1 X射线是什么？ 1895年，德 …

因为股息的英文是“dividend”，“D”是首字母； XR表示除权。 因为权力的英文是“right”，“R”是首字母。 意思是说同时进行送股和派息。 也就是说如果某家上市公司除权除息不在一天的时候，股票名称就会根据日期不同或加“XD”或加“XR”，而如果除权除息在一天的话，股票名词就会直接加个“DR”。 ---------------------------------- 好的今天的分享就到这了，更多炒股知识欢迎关注作者知乎加入圈子，如果文章对您有帮助欢迎大家点赞收藏，谢谢大家！ 祝大家股市长虹！ 股票前加“N”这 …

XRD全称 X射线衍射 （X-RayDiffraction），利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。 利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等。 X射线衍射技术是利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应，进行物相的和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术；是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。 X射线衍射技术以其无损、无污染、快捷 …

XRD 即X-ray diffraction 的缩写，中文名：X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 多晶X射线衍射仪主要由四个部分构成：1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度 2θ 的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X 射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等). XRD可以进行定性分析和定量分析。 定性分析：根据X射线衍射谱的特点，可以判断物 …

在XRD分析过程中，一束X射线直射到样品上，其散射强度是其出射方向的函数，即会随着出射方向而变化。 一般，我们将入射和出射光束方向之间的角度称为2θ。 入射和出射光束方向之间的夹角被称为2θ。 对于由间隔距离为d的晶面组成的可能是最简单的样品来说，当布拉格定律得到满足时，即n λ = 2 d sin θ时，我们会观察到相长干涉（较大的散射强度）。 XRD（X射线衍射）仪器，如：奥林巴斯的新一代 TERRA II 和 BTX III XRD分析仪，可以直接在分析仪上快速、实时 …

X光繞射儀 （X-ray diffractometer，XRD）是利用 X光 繞射 原理研究物质内部结构的一种大型分析仪器。 令一束X光和样品交互，用生成的衍射图谱来分析物质结构。 它是在 X射線晶体学 领域中在 原子 尺度范围内研究材料结构的主要仪器，也可用于研究 非晶体。 X射线衍射仪核心结构。 1. X射线管；2.测角仪；3.狭缝系统，包括发散狭缝以及索拉狭缝（Soller slit）；4.样品台以及样品；5.狭缝系统，包括防散射狭缝、索拉狭缝以及接收狭缝；6.单晶 单色器 和信号检测器. X光 …

对于一个混合物而言，物质中所有组分都按这种方法进行换算，最后可以通过归一法得到某一特定组分的百分含量。 D. XRD还可以用于点阵常数的精密 计算，残余应力计算等（黄继武老师主编的《多晶材料X射线衍射：实验原理、方法与应用》） 5.

式中：λ是X射线的 波长；θ是布拉格角；d是结晶面间隔；n是整数。 波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。

X-ray diffraction is a generic term for phenomena associated with changes in the direction of X-ray beams due to interactions with the electrons around atoms. It occurs due to elastic scattering, when there is no change in the energy of the waves. The resulting map of the directions of the X-rays far from the sample is called a diffraction pattern.