良率管理系统（Yield Management System）可以用来帮助半导体设计公司和晶圆厂的工程师大幅提升数据分析效率，在同样时间内进行更大量、更轻松的数据分析。 IDM 、 Fab 、Fabless和 OEM 都需要使用YMS系统来分析良率数据并生成报告。 这里面关于IDM、Fab、Fabless以及OEM的详细介绍就暂时不做了，大家有空可以去网上直接搜索。 在周子学等人的《中国集成电路产业投融资研究》 [3] 中有详细的介绍。 半导体制造领域的 良率管理系统 （YMS: Yield …

2024年1月12日 · "YMS"通常指的是 "Yield Management System"，即"产量管理系统(良率管理系统)"。 它是应用于半导体制造领域的一套先进系统，旨在提高半导体产品的产量和质量，以及制造效率。

YMS，全称Yield Management System（良率管理系统），是一套集数据管理、数据分析、可视化、标准化功能于一体的专业数据分析工具。 在半导体设计、晶圆制造、封装测试等过程中（尤其是量产阶段）能够帮助客户工程师大幅提升数据分析效率，快速分析一类或多类数据，找到提高良率的关键点，从而进一步促进整个生产过程稳定和可控、提升产品品质、降低企业成本。 FA YMS主要有以下特点： 提供图形化配置工具，包括CP产品定义、Zone定义、WATSite-Shot映射管 …

通过 AI/机器学习算法的赋能， YMS 工具可实现对制造数据的实时分析与反馈，将制造过程中出现的问题进行有效定位，并指导改善制造工艺，从而缩短工艺成熟周期、提升集成电路的制造效率。 在过去，晶圆厂商的缺陷和良率分析基本是依靠人的智慧——由经验丰富的工程师，靠传统 ADC 等软件，对晶圆片的缺陷进行数据比对、分析和判断。 不过，这种方法的问题在于，分析的过程中产线需要暂停，影响生产效率。 另外，结果也与工程师的判断力有很大关系。 相比之下，新 …

DataExp-YMS (简称: DE-YMS) 支持集成电路生产制造过程中的CP、FT、WAT、Inline、Defect、WIP等多类型数据智能化分析，为客户提供“一站式”数据分析管理平台。 系统通过特有的算法支持和合理的数据处理流程，能够快速完成底层数据清洗、连接、整合工作，为Fab和 Fabless企业提供数据管理、良率分析、低良率成因下钻分析等方案。 同时，DE-YMS基于分布式数据库，具备友好的工具使用界面，为客户提供海量数据的有效存取并整合的快捷页面，以及方便灵活的交互 …

2024年7月19日 · 在以往，fab工程师需要借助mms、dms、yms等多种工具。 而 YieldBook良率管理平台集合了MMS、DMS、YMS三大系统，可实现对Fab全部数据类型的分析 。 值得一提的是YieldBook平台并不是对于上述三个系统的简单承载，其可实现不同系统间底层数据的交叉分 …

在以往，fab工程师需要借助mms、dms、yms等多种工具。 而YieldBook良率管理平台集合了MMS、DMS、YMS三大系统，可实现对Fab全部数据类型的分析。 值得一提的是YieldBook平台并不是对于上述三个系统的简单承载，其可实现不同系统间底层数据的交叉分析，为良率管理 ...

A yield management system (YMS) in the context of semiconductor manufacturing is a data management, analysis, and tool system that collects data from the fab, especially during manufacturing ramp ups, and helps engineers find ways to improve yield.

晶圆制造企业目前使用的dms/yms产品基本都被国外软件产品所垄断，而这些传统dms/yms产品存在着以下的问题： 1.价格高企，性价比低。 2.不支持功能扩展和客制化，无法适应业务发展的需求

(YMS, Yield Management Solution) 是一个完整的数据科学解决方案，由工程数据分析系统 (EDA, Engineering Data Analysis)、缺陷改善管理系统 (DMS, Defect Management System)、管理仪表板 (Dashboard)、报表产生器 (Report)、机台侦测分析系统 (FDC, Fault Detection and Classification) 所构成。在我们 ...